Рентгеновский микротомограф высокого разрешения МИКРО КТ
Российский рентгеновский микротомограф МИКРО КТ с разрешением вокселя от 0,5 мкм, гранитным основанием с виброизоляцией и GPU-реконструктором — для контроля электронных компонентов, горных пород, биологических объектов и тонкостенных конструкций.
МИКРО КТ — российская разработка РЕНТОМ для неразрушающего контроля методом рентгеновской компьютерной микротомографии. Доступен в двух конфигурациях: стандартной (образцы до Ø170×200 мм) и высокого разрешения (образцы до Ø75×200 мм, воксель 0,5–1 мкм). Обе конфигурации работают на единой механической платформе с гранитным основанием и виброопорами.
Механическая платформа и позиционирование
Предметный стол с подстройкой оси вращения и 7+1 степенями свободы манипулятора обеспечивает прецизионное центрирование зоны интереса. Гранитное основание устраняет тепловые деформации и подавляет вибрации, критичные при субмикронном разрешении. Горизонтальное расширение поля зрения детектора в 2 раза относительно активной области позволяет сканировать объекты, превышающие размер детектора.
Детектор и рентгеновская трубка
Стандартная конфигурация: трубка закрытого типа 40–150 кВ / 75 Вт, КМОП-матрица 2340×2882 пикселей, активная область 116,5×143,7 мм, шаг пикселя 49,8 мкм, минимальный размер вокселя 2 мкм.
Конфигурация высокого разрешения: трубка закрытого типа 30–160 кВ / 20 Вт, КМОП-матрица 4096×4096 пикселей, активная область 36,9×36,9 мм, шаг пикселя 9 мкм, минимальный размер вокселя 0,5–1 мкм.
Реконструктор и программное обеспечение
Собственный GPU-реконструктор с поддержкой распределённых вычислений на нескольких видеокартах обеспечивает ускоренную обработку крупных томографических данных. Оптимизация под Vulkan даёт дополнительный прирост производительности при сложных вычислениях. ПО включает автоматические корректоры геометрических параметров сканирования, адаптивное подавление кольцевых и металлических артефактов, дефрагментацию объёма, геометрические измерения на срезах и в объёме.
Инструменты анализа
Автоматизированный анализ пористости, включений, толщины стенок, морфологии волокон и механическая симуляция. Поддерживаются конусная и спиральная геометрии сканирования — спиральная расширяет диапазон сканирования по вертикали без потери разрешения. Большая аналитическая камера вмещает приставки для испытаний при повышенном/пониженном давлении и изменённой температуре.
Типовые объекты контроля
Электронные компоненты (BGA, QFN, корпуса микросхем), горные породы, биологические объекты, тонкостенные стальные и алюминиевые детали, полимерные и композитные изделия.
